旺矽科技股份有限公司-Probe Card Probe Card Cantilever Type | Vertical Type Probe Card for Multi-DUT Multi-DUT probe card for Memory devices. Design and manufacturing capability up to 32 DUT. Probe Card for LCD Driver TCP (Dual DUT) Double your through put by new released dual-site TCP .
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半導體測試簡介 半導體IC測試基本名詞介紹. • Probe Card:針測板. • Socket:IC測試時承載之基座. • Bin:IC分類之稱呼. • Change Kit:變異製具. • Lead Scan:掃腳機. • Ball Scan:掃球機.
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開啟檔案 VLSI 測試理論. 期中考報告. 學生：王建弘. 學號：M9830112. 中 華 民 國2010 年4 月28 日. Outline. Probe Card簡介; Tester(測試機); Why Do We Test? 封裝測試 ...
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